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模組化測量平臺

模組化測量平臺

  • 產品型號◕│:CTP10
  • 更新時間◕│:2021-04-10
  • 產品介紹◕│:CTP10是一種模組化測量平臺▩•,可高效地測試全天候執行的無源器件╃◕↟▩₪。該平臺可直接控制一臺或多臺T100S-HP鐳射器▩•,在幾秒內實現高解析度頻譜鑑定╃◕↟▩₪。
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CTP10是一種模組化測量平臺▩•,可高效地測試全天候執行的無源器件╃◕↟▩₪。該平臺可直接控制一臺或多臺T100S-HP鐳射器▩•,在幾秒內實現高解析度頻譜鑑定╃◕↟▩₪。一臺CTP10可為IL▩◕、RL或PDL測量提供波長掃描▩◕、資料收集與處理▩◕、以及曲線顯示與分析功能▩•,從而成為一款非常誘人▩◕、易於使用的無源器件測試解決方案╃◕↟▩₪。它能夠以高達80 dB的動態範圍▩◕、非常高的速度與解析度▩•,透過一次掃描便完成插損測量╃◕↟▩₪。該平臺可連線多達50個檢測器▩•,成為測試DWDM網中所用大埠數器件以及光子積體電路(PIC)的理想儀表╃◕↟▩₪。

它執行用的作業系統和功能強大的資料處理電子技術▩•,從而幾乎消除了由資料傳輸而導致的任何停機時間╃◕↟▩₪。它還配備一個大容量內建硬碟▩•,用於直接儲存資料和透過相容SCPI的命令進行全遠端控制╃◕↟▩₪。

模組化測量平臺主要功能

迅速對IL▩◕、RL或PDL進行波長掃描測量

採用先進的電子技術▩•,只需一次掃描便可以實現整個動態範圍內的IL鑑定▩•,是測試頻譜對比度高的器件的理想工具

可安裝多達10個熱插拔模組▩•,以提供50個光輸出埠▩•,甚至透過菊花鏈連線提供100+個光輸出埠來測試器件

配備強大▩◕、直觀的圖形使用者介面(GUI)▩•,便於配置測試和分析測量結果

支援全波段IL▩◕、RL和PDL測量▩•,覆蓋從1240 nm到1680 nm的波長

提供鐳射器共享功能▩•,在最多8個測試臺間共享一個或多個鐳射器

下一代模組
CTP10平臺可安裝多達10個熱插拔模組▩•,提供各種光工具來進行高質量的IL▩◕、RL或PDL測量╃◕↟▩₪。

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掃頻IL▩◕、RL和PDL測量速度快

對任何用於研發與製造環節的無源器件測試臺來說▩•,快速▩◕、可靠的IL▩◕、RL和PDL測量都非常關鍵╃◕↟▩₪。其它引數▩•,如隔離度▩◕、自由頻譜範圍或指向性都依賴於高質量的損耗測量╃◕↟▩₪。

得益於先進的電子技術▩•,CTP10的效能勝過現有的所有測試儀表╃◕↟▩₪。對於輸出功率為10 dBm▩◕、掃描速度為100 nm/s的可調諧鐳射器▩•,它在進行IL測量時單次掃描的動態範圍為70 dB▩•,同時保持1 pm的取樣解析度▩•,不需要任何後期處理▩•,如追蹤曲線縫合和糾正頻寬╃◕↟▩₪。

在進行IL和PDL測量時▩•,CTP10會自動生成已知的偏振態(SOP)▩◕、記錄每種偏振態內的所有相關頻譜▩•,並使用Mueller(穆勒)法計算PDL和偏振平均IL╃◕↟▩₪。

IL PDL OPM2模組可在CTP10的工作頻譜的任何地方準確測量PDL▩•,而IL PDL模組可在SCL波段上測量╃◕↟▩₪。

CTP10可以測試頻譜對比度高的器件▩•,如波長可選擇開關或DWDM複用器▩•,而不會犧牲光功率測量的質量╃◕↟▩₪。該模組的檢測器沒有轉換速率問題▩•,可隨時以100 nm/s的掃描速度測量超過10 dB/pm的插損變化╃◕↟▩₪。

GUI強大▩◕、直觀

功能豐富的軟體提供強大▩◕、直觀的GUI▩•,可輕鬆配置系統▩◕、確定其參考基準並進行測量╃◕↟▩₪。可提供內建的分析功能▩•,用來分析WDM濾波器或WSS等器件╃◕↟▩₪。

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菊花鏈連線

測試埠數器件就像將另一臺CTP10主機連線到現有系統上那麼簡單╃◕↟▩₪。藉助菊花鏈連線功能▩•,可透過GUI進行無縫配置▩•,從一臺CTP10上對所有檢測器進行基準測試和測量╃◕↟▩₪。

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支援全波段

對於IL和RL測量▩•,CTP10可在1240 nm到1680 nm的範圍內工作▩•,且*相容EXFO的T100S-HP系列可調諧鐳射器╃◕↟▩₪。T100S-HP鐳射器的O▩◕、ES和CL型號可結合起來▩•,覆蓋1260-1630 nm的範圍▩•,並使用O+或CLU型號▩•,將覆蓋範圍向下擴充套件到1240 nm▩•,或向上擴充套件到1680 nm╃◕↟▩₪。在將多個鐳射器同FBC模組結合起來時▩•,CTP10可自動在鐳射器間切換▩•,實現無縫▩◕、快速和可靠的全波段測試╃◕↟▩₪。

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鐳射器共享

透過鐳射器共享功能▩•,可在最多連線到同一個LAN網路的8個CTP10平臺間共享一個或多個鐳射器╃◕↟▩₪。可使用各個CTP的GUI輕鬆設定這種共享功能▩•,只需要一個外接耦合器將光分配給不同的測試系統▩•,從而降低製造環境的CAPEX╃◕↟▩₪。

波長參考氣體腔

可在O和C波段使用帶可溯源到NIST的吸收線的外接氣體腔╃◕↟▩₪。可以使用該附件▩•,進一步提升SCAN SYNC模組的精度(±5 pm)▩•,從而提供出色的波長精度╃◕↟▩₪。

WLRM-NS270x附件在C波段使用氰化氫(HCN)氣體腔▩•,在O波段使用氟化氫(HF)氣體腔╃◕↟▩₪。

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a. 除非另行說明▩•,否則測試條件為經過1小時的預熱(對於CTP10主機和模組)▩•,溫度恆定為23 °±°C▩•,使用SMF28跳線▩◕、FC/APC聯結器▩•,T100S-HP鐳射器結合SCAN SYNC模組╃◕↟▩₪。

b. 在使用SCAN SYNC模組時▩•,鐳射器波長掃描範圍的一個和最後一個2.5 nm不可用╃◕↟▩₪。

c. 超過1分鐘▩•,在好的可調諧鐳射器掃頻速度範圍內▩•,鐳射器光功率為10 dBm╃◕↟▩₪。

d. 可調諧鐳射器功率為10 dBm▩•,在將光檢測器歸零後▩•,平均時間設定為“自動”╃◕↟▩₪。

e. 適用於IL<20 dB▩•,在進行功率基準測試後▩•,不包括聯結器不確定度▩•,偏振度<5%╃◕↟▩₪。

f. 適用於PDL<2 dBIL<20 dB10 dBm TLS▩•,自動平均時間▩•,使用FC/PC聯結器連線OPM╃◕↟▩₪。取決於測量條件▩•,可顯示更高的PDL值╃◕↟▩₪。

g. 1490 nm-1620 nm的頻譜範圍內▩•,±0.04 dB + 1% PDL╃◕↟▩₪。

h. 適用於RL<40 dB▩•,偏振度<5%╃◕↟▩₪。

i. 適用於IL<45 dB▩•,可調諧鐳射器功率為+10 dBm╃◕↟▩₪。

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