緊湊型測試儀

緊湊的測試儀│✘☁，用於快速◕│·₪│、準確地鑑定無源光元器件（複用器/解複用器◕│·₪│、濾波器◕│·₪│、分光器等）和模組（ROADM◕│·₪│、WSS）₪··₪▩。覆蓋從1240到1680 nm的頻譜範圍│✘☁，因此可在整個電信頻段上進行測量₪··₪▩。藉助PDL選件│✘☁，可同時測量插損和偏振相關損耗₪··₪▩。

主要功能

• 快速測量變換函式（插損）

• 波長範圍╃│₪：1240-1680 nm（SMF型號）

• PM和PDL選件

• 波長解析度╃│₪：1至250 pm

• 波長精度╃│₪：±5 pm

• 動態範圍╃│₪：單次掃描時65 dB

• 最多可結合4個可調諧鐳射器（SMF型號）

• 配備四個內部檢測器│✘☁，可透過同步進行擴充套件

• 19英寸機架支援1U版本

快速測量插損

CT400地將高速電子裝置和光干涉測量技術結合起來₪··₪▩。四個整合的檢測器使您能夠同時測量四個通道│✘☁，單次鐳射器掃描的動態範圍為65 dB₪··₪▩。此外│✘☁，可在任何掃描速度實現±5 pm的波長精度│✘☁，因此不需要在測量速度和精度間進行取捨₪··₪▩。

準確測量插損

CT440緊湊型測試儀集成了一個監測光電探測器│✘☁，在掃描期間補償來自鐳射光源的任何功率波動₪··₪▩。可以不考慮鐳射器掃描速度│✘☁，在1和250pm之間選擇取樣解析度₪··₪▩。除了±5 pm的波長精度外│✘☁，內建的波長計可減輕對可調諧鐳射光源（TLS）的要求│✘☁，從而在不影響測量效能的情況下降低系統成本₪··₪▩。CT440在與TLS和PC連線時│✘☁，可提供執行測量所需的各種功能₪··₪▩。

緊湊型測試儀支援全頻段

CT440（SMF型號）覆蓋從1240到1680 nm頻譜範圍│✘☁，且*相容EXFO的T100S-HP系列可調諧鐳射器₪··₪▩。例如│✘☁，將T100S-HP-O+◕│·₪│、T100S-HP-ES◕│·₪│、T100S-HP-CLU和CT440 SMF型號結合起來│✘☁，實現全頻段測試₪··₪▩。在使用多臺TLS時│✘☁，CT440可自動在鐳射器間切換│✘☁，實現無縫的全頻段測量₪··₪▩。它與DUT間只需進行一次連線│✘☁，這意味著不需要外部開關₪··₪▩。

                                用於全頻段鑑定的典型配置

PM選件

CT440-PM可測量對偏振很敏感的元器件（如MZ調製器）的插損│✘☁，此時在TLS輸入和輸出埠間需要一條偏振保持光纖₪··₪▩。有兩個型號│✘☁，使用PM13型光纖覆蓋O頻段（1260 nm至1360 nm）│✘☁，或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段（1440 nm至1640 nm）₪··₪▩。因此│✘☁，這些型號要求偏振保持的可調諧鐳射器│✘☁，例如分別要求T100S-HP-O-M和100S-HP-SCL-M₪··₪▩。

PDL選件

CT440-PDL集成了一個偏振態發生器│✘☁，從而能夠透過連續的偏振控制掃描│✘☁，鑑定插損和偏振相關損耗的頻譜（基於穆勒矩陣法）₪··₪▩。有兩個型號│✘☁，使用PM13型光纖覆蓋O頻段（1260 nm至1360 nm）│✘☁，或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段（1440 nm至1640 nm）₪··₪▩。因此│✘☁，這些型號要求偏振保持的可調諧鐳射器│✘☁，例如分別要求T100S-HP-O-M和T100S-HP-SCL-M₪··₪▩。

                              使用CT440-PDL測量PDL

其它功能

鐳射線外差檢測（SMF型號│✘☁，TLS輸入埠數≥2）

可將被測訊號（SUT）連線到TLS第二個輸入埠上₪··₪▩。在鐳射器掃描整個波長範圍的過程中│✘☁，CT440會在穿過SUT波長時生成並檢測干涉圖樣₪··₪▩。因此│✘☁，CT440可用作多波長計₪··₪▩。

使用*的基準鐳射器或光纖耦合的氣體腔重新校準系統

可使用支援外差檢測功能的基準鐳射器│✘☁，或支援波長基準測試功能的氣體腔│✘☁，進一步提高精度₪··₪▩。

帶內建分析功能的控制軟體

提供直觀全面的GUI│✘☁，便於鐳射器管理◕│·₪│、基準測試◕│·₪│、掃描配置和濾波器分析₪··₪▩。

*的遠端控制

藉助DLL和CT440隨帶的示例軟體程式碼│✘☁，可隨時將元器件測試整合到複雜的遠端控制程式中₪··₪▩。

外形小巧

CT440有全新的機架式版本（高度為1U）│✘☁，是空間有限的實驗室的理想之選₪··₪▩。

備註

a. 用於取樣解析度為5 pm│✘☁，> 5 nm進行的TLS掃描│✘☁，對於PDL-O和PDL-SCL│✘☁，取樣解析度為1 pm│✘☁，不包括TLS掃描的加速和減速部分₪··₪▩。
b. 在波長基準測試後₪··₪▩。
c. 對於檢測器上的入射功率> -30 dBm₪··₪▩。精度╃│₪：±0.5 dB│✘☁，用於-30 dBm和-60 dBm之間的功率₪··₪▩。
d. 1260 nm至1640 nm₪··₪▩。
e. 如果鐳射器輸入功率 = 10 mW（動態範圍與鐳射器輸出功率成比例）₪··₪▩。
f. 對於檢測器上的入射功率 > -30 dBm│✘☁，根據解析度為5 pm時6個狀態測量結果確定₪··₪▩。
g. 穩定的測試條件│✘☁，建議用於較高PDL的6個狀態₪··₪▩。
h. 選擇的鐳射器頻率範圍除以本地取樣解析度₪··₪▩。